2020年10月29日のウェビナー（弊社主催）で、LPDDR4とNXP製i.MX 8M Miniアプリケーション・プロセッサが載るプリント基板にて、LPDDR4が大容量でデバイス内で配線が分岐している場合や、基板の層構成がリファレンスボードと異なる場合の波形やノイズへの影響を紹介しました。今回は、この詳細と、新たに複数の信号間のタイミングが理想的でない基板の場合を紹介します。また、この実測について、波形観測用プローブアダプターの仕様、測定系に介在する影響、および観測点移動の実際を示します。

LPDDR4に代表される高速メモリの安定動作にはシグナルインテグリティー(信号品質)はもちろん、パワーインテグリティー(電源品質)の確保も重要です。シミュレータを活用すればアートワークの段階で基板におけるこれらの品質の検証、評価が可能です。このセミナーでは基本的なシグナルインテグリティーおよびパワーインテグリティーの概念について確認し、実際の基板へのシミュレータの活用例を示します。

LPDDR4を高速に動作させる際のオシロスコープ実測評価において、多くのお客様が観測点移動を使い始めています。設定自体は難しくありませんが、妥当な設定かどうかの判断は非常に難しいものです。このセミナーでは、測定の妥当性を改善していく手助けのために、RITAエレクトロニクス社のDDRメモリBGA Interposer使用時にオシロスコープに行う観測点移動設定の標準的な設定事例を紹介します。

キーサイト・テクノロジー株式会社　長嶺 銀河氏