業務用放送機器やセキュリティー、メディカル等アプリケーションのハードウェア開発者の方を対象に、SDI デバイスを搭載する基板をスムーズに開発するための設計・評価手法の情報を提供させて頂きます。ご多忙のこととは存じますが、万障お繰り合わせの上、ご来場賜りますようお願い申し上げます

アイカ工業株式会社

アジレント・テクノロジー株式会社

セムテック・ジャパン

2013年12月17日（火）13:00～17:00　（12:30受付開始）

アジレント・テクノロジー株式会社　芝浦オフィス

（東京都港区芝浦4-16-36 住友芝浦ビル8階）

無料（事前申込制）

アジレント・テクノロジーの以下URLからお願いします。

http://www.agilent.co.jp/find/sdi-1

※同業他社の方や個人の方などはお断りする場合があります。これを含め、上記URLに記載の条件をご了承のうえ、お申し込み下さい。

13:00～13:50　セッション1

「SDI 物理層規格・デバイス・設計ルール」
セムテック・ジャパンジェナムプロダクトグループ　河西　基文様

SDI向け製品の設計ではSMPTEの仕様にあわせて、さまざまな要求事項があります。このセッションでは基板設計にフォーカスし、本来の目的や今までの設計手法・注意点について、測定データとともに説明します。また今後の高速化についても新製品と共に紹介します。

13:50～14:05　休　憩・製品展示

14:05～14:55　セッション2

「SDIリターンロス規格合致のための基板設計手法」
アイカ工業株式会社　電子カンパニー　基板商品開発グループ　本木　浩之

SDIデバイス搭載基板を開発する際には、SMPTE-424mのリターンロス規格合致が課題になる事が多いため、開発をスムーズに進めるには、それに対応したパターン設計・シミュレーション手法が必要です。この手法を開発するため、セムテックジャパン社の協力のもと弊社が実施したSDIデバイス搭載の実機評価や、その結果、および弊社が提供するSDIリターンロス規格合致のための商品など、開発に役立つ情報をご案内します。

14:55～15:25　セッション3

「SDI搭載基板の信号品質確保や放射ノイズ抑制の手法」
アイカ工業株式会社　電子カンパニー　基板商品開発グループ　池田　聡

SDIデバイス搭載基板には、SDIだけでなく、DDR3-DRAMなど高速なI/Oをもつ高速LSIが載るケースが多く、その安定動作やノイズ対策が課題になることがあります。このような問題解決に役立つ情報として、メモリバスやシリアルインタフェースの信号品質確保、LSI動作時の電源電圧の安定化、および放射ノイズ抑制の手法を解説すると共に、これらに関係した弊社商品をご案内します。

15:25～15:40　休　憩・製品展示

15:40～16:30　セッション4

「動作状態でのデバイスのS11測定と設計/デバッグ手法」
アジレント・テクノロジー株式会社　電子計測本部
アプリケーション・エンジニアリング部門　青木　秀樹

デジタル信号の高速化によりデバイスと伝送路の不整合による多重反射の影響が顕在化してきており、今まで測定が困難であった動作状態でのデバイスの特性測定を行うニーズが高まっています。本セッションでは動作状態でのデバイスのS11測定の紹介を行うと共に、S11データをシミュレータに適応した解析手法を解説しデバッグ事例を紹介します。

16:30～17:00　セッション5

「SDI インタフェースの物理層デバッグ手法」
アジレント・テクノロジー株式会社　電子計測本部
アプリケーション・エンジニアリング部門　長嶺　銀河

SDI の入出力部分の波形品質の測定から始まり、FPGA やDDR メモリなどの回路全体のなかで重要な処理を行う主要なブロックの動作検証をしていく過程において、不具合の切り分けに役立つ測定器の使い方を解説します。測定器として、オシロスコープ、FPGA/DDR アナライザ、信号発生を中心にご紹介します。

17:00～17:30　製品展示

弊社　電子カンパニー　基板商品開発グループ長　田中顕裕

　　電　話　03－5912－2855

メール　akihiro.tanaka@aica.co.jp